SE-VM 스펙트럼 타원형

협상 가능업데이트02/18

모델

제조업체의 성격: 생산자

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개요

제품 소개: SE-VM은 고정밀 고속 측정 스펙트럼 타원형 기기입니다.타원형 파라미터, 투과/반사율 등 파라미터의 측정을 통해 광학 파라미터 박막과 나노 구조의 표징 분석을 빠르게 실현할 수 있으며, 박막 재료의 빠른 측정 표징에 적용된다.다각도, 마이크로 플레어, 시각 조정 시스템 등 높은 호환성과 유연한 구성, 다기능 모듈 맞춤형 설계를 지원한다.$r$n$r$n 고정밀 타원형 측정 솔루션;초고정밀도, 신속 무손실 측정;다각도, 마이크로 플레어, 시각화 조정 시스템 기능 모듈의 유연한 사용자 정의를 지원합니다.강력한 데이터 분석 기능을 위한 풍부한 데이터베이스 및 형상 구조 모델 라이브러리

제품 정보

제품 모델	SE-VM 스펙트럼 타원형
주요 특징	1. 고성능 수입 복합 광원을 채용하여 스펙트럼 커버는 근적외선 범위 (380-1000nm) 를 볼 수 있다 2. 고정밀 회전 보상기 변조, PCRSA 구성, Psi/Delta 스펙트럼 데이터 고속 수집 3. 다양한 응용 시나리오에 따라 다기능 모듈식 사용자 정의를 지원하는 유연한 시리즈 구성 지원 4, 수백 가지 재료 데이터베이스, 다양한 알고리즘 모델 라이브러리, 현재 대부분의 광전 재료를 포함
기술 매개변수	1. 자동화 정도: 수동 변각 2. 응용 포지셔닝: 유니버설 3. 기본 기능: Psi/Delta, N/C/S, R/T 등 스펙트럼 4. 분석 스펙트럼 380-1000nm(210-1650nm까지 확장 가능) 5. 단일 측정 시간: 0.5-5s 6. 중복성 측정 정밀도: 0.01nm 7, 반점 크기: 큰 반점 2-3mm, 미세 반점 200 μm 8. 입사각 조절 방식: 수동 변각 9, 입사각 범위: 55-75 ° (5 ° 스텝), 90 ° 10. 초점 찾기 방법: 수동 초점 찾기 11. Mapping 스케줄: 지원되지 않음 12, 지원 샘플 크기: 최대 180mm
옵션 액세서리	1	온도조절대
	2	Mapping 확장 모듈
	3	진공 펌프
	4	투과 흡착 어셈블리

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