ME-L 전자동 고정밀 뮐러 매트릭스형 타원형

협상 가능업데이트02/18

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개요

ME-L은 과학연구급 전자동 고정밀 뮐러 매트릭스형 타원형 타원형 기기로서 과학연구팀의 타원형 기술에 다년간의 투입을 결집시켰으며, 소색차 보상기, 쌍회전 보상기 동기화 제어, 뮐러 매트릭스 데이터 분석 등을 포함한 업계 최전방의 혁신 기술을 채용하였다.반도체 박막 구조, 반도체 주기성 나노 구조, 신소재, 신물리 현상 연구, 평판 디스플레이, 태양광 태양 에너지, 기능성 도료, 생물 및 화학 공학, 블록 재료 분석 및 각종 각방향 동성/이성 박막 재료 막두께, 광학 나노 그리드 상수 및 1차원/2차원 나노 그리드 재료 구조의 표

제품 정보

제품 모델	ME-L 전자동 고정밀 뮐러 매트릭스형 타원형
주요 특징	1. 듀테륨등과 할로겐등의 복합광원을 채용하여 스펙트럼이 자외선에서 근적외선까지의 범위를 덮는다 (193-2500nm) 2. 뮬러 매트릭스 데이터 처리를 실현할 수 있고, 측정 정보량이 더 크며, 측정 속도가 빠르고, 데이터가 더욱 정확하다 3. 이중 회전 보상기 구성을 기반으로 모든 뮬러 행렬의 16개 요소를 한 번에 측정하여 얻을 수 있으며, 전통적인 스펙트럼 타원형 기기에 비해 더욱 풍부하고 전면적인 측정 정보를 얻을 수 있다 4. 넓은 스펙트럼 범위 내에서 양질의 안정적인 각 주파수 대역 스펙트럼을 제공하도록 확보한다 5, 수백 가지 재료 데이터베이스, 다양한 알고리즘 모델 라이브러리, 현재 대부분의 광전 재료를 포함 6, 나노 그리드에 대한 분석을 통합하여 나노 구조 주기, 선폭, 선높이, 측벽각, 거친도 등 기하학적 형상 정보를 동시에 측정 분석할 수 있다
기술 매개변수	1. 응용: 과학연구급/기업급 2. 기본 기능: Psi/Delta, R/T, 뮐러 매트릭스 등 스펙트럼 3. 분석 스펙트럼: 380-1000nm(210-1650nm까지 확장 지원) 4. 단일 측정 시간: 1-8s 5. 중복성 측정 정밀도: 0.005nm 6, 정밀도 (직통 측정 공기) 타원형 매개변수: ψ=45±0.05° △=0±0.1° 뮬러 행렬: 대각 요소 m=1±0.005;비대각 요소 m = 0 ± 0.005 7, 반점 크기: 큰 반점 2-3mm, 마이크로 반점 200 μm
옵션 구성	밴드 선택 V: 380-1000nm UV: 245-1000nm XN: 210-1650nm DN+: 193-2500nm 각도 선택 자동: 45-90° 수동: 55-75 ° (5 ° 스텝), 90 ° 고정: 65° 추가 선택 Mapping 선택: 100 × 100mm(참조용, 주문형) 온도 조절대: 실온 1600C(참고용, 필요에 따라 맞춤형)
옵션 액세서리	1	온도조절대
	2	Mapping 확장 모듈
	3	진공 펌프
	4	투과 흡착 어셈블리

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