X-Rite 애색리 369T 중질소 은염 탁상 투사 밀도계

X-Rite 애색리 369T 중질소 은염 탁상 투사 밀도계

X-Rite 369는 하나의 성능좋아의 투과식 밀도계는 PCB 업계의 품질 제어 측정에서 광범위하게 응용되고 있다.특히 PCB 산업용 중질소편과 은염편의 광밀도를 측정하는 데 적합하다.교정된 X-Rite 369는 필름의 품질을 제어하는 데 더 좋은 선택이 될 것입니다.제조업체의 재료를 절약하고 문제를 발견하고 해결하는 데 도움이 됩니다.

최대 5.0D 밀도 측정
X-Rite369는 측정 정밀도 및 범위에 대한 표준을 제공합니다.이것은 5.0D를 직접 측정할 수 있는 필름 광밀도계이다.
그것 은 대단히 훌륭한 것 을 가지고 있다정확성, 2mm 조리개 구멍 지름을 사용할 때에도 가능정확± 0.04D(4.5D 밀도)까지.

자동 광 강도 제어
다른 *의 성능: 필름 밀도에 따라 조명 시간과 강도를 자동으로 조정합니다.369의 광밀도 제어 시스템은 4.0D 이상의 밀도를 인식하고 고강도 램프를 자동으로 작동합니다.
또한 on-board 마이크로컴퓨터는 최대 5.0D의 안정성을 보장합니다.정확의 측정입니다.

전자 필터
버튼을 누르기만 하면 369의 필터를 쉽게 전환하여 중질소편이나 은염편을 측정할수 있다.이렇게 하면 질소 중량을 측정할 때 빛길에 특별한 필터를 추가할 필요가 없다.

안전광 보호
우리는 369에 UV 광침로를 최소화하기 위해 특별한 주황색 광 커버를 설치했습니다.이 내장형 안전등은 중질소 조각을 보호하여 밀도 값이 측정 과정에서 통제하기 어려운 변화를 피할 수 있다.

X-Rite 애색리 369T 중질소 은염 탁상 투사 밀도계기술 사양:
1. 측정직경: 1mm, 2mm 및 3mm(0.5mm 추가) 2. 측정범위: 0~6.0D 0~100% (점포);3. 정확도: 정색: 2mm 및 3mm 측정지름, 정확도 ±0.02D(0~5.0D) ±1%(5.0~5.5D) ±2%(5.5~6.0D) 정색: 1mm 측정지름, 정확도 ±0.02D(0~4.5D) ±1%(4.5~5.0D) 자외선: 3mm 측정지름, 정확도도는 ±0.02D(0~3.5D) ±1%(3.5~4.0D) 4, 전복 정밀도: 정색: 2mm 및 3mm 측정 지름, 전복 정밀도는 ±0.01D(0~5.0D) ±2%(5.0~5.5D) ±3%(5.5~6.0D) 정색: 1mm 측정 지름,정확도는 ±0.01D(0~4.5D) ±1%(4.5~5.0D) 자외선: 3mm 측정 지름,정확도는 ±0.01D(0∼3.5D) ±1%(3.5∼4.0D)