사이머페이 듀얼 포커스 휘광 방전 스펙트럼

사이머페이 듀얼 포커스 휘광 방전 스펙트럼휘광 방전 이온 소스와 듀얼 포커스 고해상도 품질 분석기를 결합하여 고체 샘플 중 C, N, O를 포함한 거의 모든 원소를 정성적으로 정량 분석할 수 있으며, 고순도 샘플 잡지 함량과 도금 재료 원소로 구성된 도구를 직접적이고 빠르게 분석할 수 있다.

사이머페이 듀얼 포커스 휘광 방전 스펙트럼휘광방전과 고해상도 질량스펙트럼의 우세를 집중시켜 다음과 같은 면에서 걸출한 표현이 있다.

샘플 테스트 통량이 높음: ELEMENT GD 이온 소스와 샘플 클립의 설계는 샘플링 및 분석 시간을 단축하고 생산성을 크게 향상시킬 수 있습니다.

검측기 선형 범위 폭: 검측기 선형 범위는 12개 수량급에 달하며, 한 번의 스캔으로 기체와 흔적 요소 구성을 동시에 검측할 수 있다;

고정 너비의 낮음, 중간, 고해상도 좁은 틈이 있어 고해상도로 질량 스펙트럼 간섭이 있는 동위원소를 직접 분석할 수 있다.