TXRF 전체 반사 X선 형광 분광기

S4 TStar - TXRF의 스타
수십 년 동안 X선 형광 (XRF) 스펙트럼은 여러 산업에서 고체 및 석유 화학 샘플에 대한 원소 분석에 널리 사용되었으며 검사 제한치는 PPb 체급보다 낮습니다.TXRF는 액체 시료, 부유액 및 필름의 초미량 요소를 분석 할 수있는 XRF의 적용 범위를 확장합니다.따라서 TXRF는 원자 흡수 스펙트럼 (AAS) 및 전감 결합 플라즈마 발사 스펙트럼 (ICP-OES) 또는 질량 스펙트럼 (ICP-MS) 에 이상적인 대체 방법이 되었습니다.이제 S4 TStar는 데스크탑 TXRF 분광기의 성능, 자동 제어 및 품질에 새로운 표준을 열었습니다.

우수한 샘플 공통성
S4 TStar는 다양한 반사 캐리어의 다양한 유형의 샘플을 분석 할 수있는 범용성이 강한 도구입니다.

ICP는 용해된 액체 시료만 분석할 수 있다.

그림 1: 30mm 석영 조각: 액체, 고체 및 부유액에 대한 원소 분석
그림 2: 2인치 웨이퍼: 오염 분석, 심층 분석 및 재료 과학 연구
그림 3: 현미경 적재 볼륨: 임상 및 생물학 샘플, 세포 배양물, 코팅 및 절편 직접 분석
그림 4: 직사각형 캐리어: 54mm 미만의 크기, 필름, 필터, 나노 입자층에 사용
사용자 정의 반사 매체

업계 어플리케이션:

·약품
활성 약물 성분의 촉매 원소 검출: 액체 또는 알갱이의 납 함량이 0.1 / 0.5 ppm 미만입니다.
·식품
식량농업기구와 WHO의 식품안전기준: 쌀의 비소 함량은 10/40ppb보다 작다.
·환경 모니터링
환경 모니터링: 지표수, 폐수, 슬러지 및 핵 폐기물의 오염 물질 함량이 1 / 10ppb 미만입니다.