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Jenino (Beijing) Technology Co., Ltd
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Solaris CCD-NF 불꽃 직독 분광기

협상 가능업데이트01/22
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

CCD-NF 불꽃 직독 분광기는 비철금속 시료 분석 테스트를 위한 CCD 직독 분광기로 중소 주조업체, 주형기업, 자재 품질 검사 통제, 금속 무역 및 회수, 자동차 산업 등에 적용된다.

제품 정보

1. 계기소개

CCD-NF 불꽃 직독 분광기비철금속 샘플 분석 테스트를 위한CCD는직독 분광기는 중소 주조 기업, 주형 기업, 재료 품질 검사 통제, 금속 무역 및 회수, 자동차 공업 등에 적용된다.

2. 주요 특징

1, 조작이 편리하고 안정성이 좋으며 신뢰성이 높고 분석 속도가 빠르다;

2, 고해상도CCD는전체 스펙트럼 검출기;

3, 계기 검출 제한이 낮고 분석 정밀도가 높으며 결과가 정확하다;

4, 유지 보수가 편리하고 고장률이 낮습니다.

5, 언제든지 분석 재료의 종류 및 분석 요소를 증가시킬 수 있다;

6, 품질은 신뢰할 수 있으며 유색 금속 분석을 위해 설계되었습니다.

3. 기술 매개 변수

1, 옵티컬 시스템

v다중 블록 고성능CCD는어플리케이션 요구 사항에 따라 최대한의 검출기 시스템16블록CCD는검측기

v각각CCD 3,648픽셀

v고성능 홀로그램 래스터, 래스터 각선1200 또는2700 또는3600 조/ mm

v온도 안정 시스템

v특수 재료를 채용하여 표류에 대응하다.

v초점 거리:500개의 mm

v스펙트럼 선 파장:190~800nm회절 래스터의 선택에 따라 결정됩니다.래스터 선택은 제조업체가 분석 요소에 따라및 분석 프로그램에서 결정

v전광학 시스템 자동 흔적 묘사

v광학실을 밀폐하면 먼지와 빛의 방해를 피할 수 있다

2, 스펙트럼 선

SCNF는 전체 요소 분석 범위를 포괄하므로 필요에 따라 해당 요소를 분석할 수 있습니다.

v광학 시스템은 고체 검측기가 샘플에서 나오는 전체 스펙트럼을 측정할 수 있는 것을 포함한다

v또한 향후 가능한 업그레이드를 위해 분석 라인 (요소) 을 쉽게 추가할 수 있습니다.

v현장 지원 추가 분석 프로그램

3. 제어, 전자 수집 및 데이터 판독 시스템

v전자 시스템은 마이크로프로세서가 제어하는 다중 채널 포인트와 데이터 시스템 수집 기능을 갖추고 있다

v고속 16비트 모드 변환기

vISP 혼합 신호 Flash 마이크로컨트롤러 100MHz

v다양한 연결 소스

v고속 읽기 및 고속 USB 핑계로 빠른 데이터 제어 및 처리 시스템 지원

v제조업체에서 어플리케이션에 따라 선택하는 최대 16개의 CCD 모듈

4, 불꽃 소스

v전자동 제어 불꽃 소스

v반도체 제어 방전 자극

v1 ~ 100A 플라즈마 전류

v 비밀번호로 보호되는 방전 매개변수

v 특별한 분석 요구 사항에 따라 다양한 자극 매개변수

v불꽃 광원 방전 안정, 전력 공급 시스템 파동의 영향을 받지 않는다

v 자극 매개변수는 자극선 및 분석 프로그램에 의해 식별 및 제어됩니다.

v 스파크 소스에는 다양한 매개변수 설정이 가능

v 스파크 주파수: 200 ~ to 1000Hz(제어 가능)

v 불꽃 지속 시간 10-10000 us(제어 가능)

5, 불꽃대

v 개방형 불꽃대는 무게가 20kg에 달하는 다양한 모양의 샘플을 분석 테스트할 수 있다

v 분리 및 유지 보수가 용이한 전극

v 아르곤 가스 청소 불꽃대, 낮은 아르곤 가스 소모

v 간편한 샘플 클립으로 빠른 샘플 교체 지원

v 다양한 샘플을 위한 어댑터 (옵션)

6. 소프트웨어: 분석 소프트웨어, 교정 소프트웨어, 통계 기능

각 요소의 보정 커브를 계산하려면 다양한 베이스 (참조선) 를 고려해야 합니다.

소프트웨어 기능:

분석 보정 소프트웨어:

  • 지능화: 샘플 세트로 표준화 완료
  • 편리한 사용자 그래픽 인터페이스
  • 분석기 작성 또는 수정
  • 일반적인 작업 기능 키
  • 선택 가능한 출력 방식 (강도, 강도 비율, 교정되지 않은 농도, 교정된 농도 등)
  • 선택 가능한 농도 단위(ppm, %)
  • 범용 표준화
  • 소형 표준화
  • 요소 간 간섭 보정
  • 자동 표준화
  • 표준 편차 및 상대 표준 편차 기능
  • 합금 유형 확인 (UNI, ISO, DIN, EN, ASTM, JIS, BS, 등.)
  • 샘플 라이브러리
  • 국제 표준 물질 창고
  • 번호감정
  • C 당량 또는 기타 매개변수 계산 지원
  • 작업 커브 범위를 벗어난 요소 분석 결과를 표시할 수 있습니다.
  • 분석 시간 또는 발생 횟수에 따른 자동 재조정 기능

통계 기능 소프트웨어:

  • 통계적 계산
  • 모든 발생 결과 또는 최대 100회의 평균 발생 결과 및 표준 편차 및 상대 표준 편차를 인쇄할 수 있습니다.
  • 하드 드라이브에 데이터를 저장하여 향후 연구 분석을 용이하게 합니다.
  • 외부 컴퓨터 또는 센터 시스템 연결 가능

·종합적인 기능:

*32비트 애플리케이션

* 글꼴, 글꼴 크기 설정

* 날짜/시간 형식은 Windows 설정 기반

* 다양한 출력 기능 또는 대화 작업에 대한 바로 가기 아이콘

* 드롭다운 메뉴 작업 문서, 필터링, 관찰

* 요소 수 제한 없음

* 샘플 인식 도메인 수 제한 없음

* 도움말 파일

* 수동으로 MS-Word 파일 or PDF 파일(Acrobat Reader) 변환

* 완전 자동 제어, 자동 진단 기능

데이터베이스:

* 입력, 출력

* 기기와 통신 간의 인터페이스

* 파일 공유, 전송

* 출력 파일, 통계

  • 문서:

* 표준 출력, 페이지 설정 로고 또는 헤더 기능

* 인쇄 설정, 인쇄 미리 보기

* 데이터 인쇄, 작업 커브 인쇄

  • 분석 관리:

* 데이터베이스 관리 및 제어

* 다중 창에서 멀티태스킹 지원

* 분석 결과 목록 수 제한 없음

* 모든 데이터베이스 도메인에 대한 질의 기능

* 분석 편집 기능

* 결과 분할 시 전송“디디”소리

* 요소, 크기, 소수점 표시 형식

* 분석 결과 복제 기능

* 결과 단위 및 소수점 선택(무제한)

* 수동 분석 결과 입력 및 샘플 감별

* 샘플 코드 입력 (옵션) 바코드 판독기 사용

* 모든 샘플 식별 및 요소 도메인 작업을 한눈에 파악

* 모든 분석 결과를 위한 질의 및 출력

* 브랜드 데이터베이스

* 브랜드 제어 기능

* 브랜드 식별 기능

* 분분석 결과 목록에서 번호 제어 표시

* 이미 존재하는 번호의 자동 감지 수신

* 방정식 편집 기능 확장

* 방정식 편집 사용자화

* 디지털 통계 기능(번호,가합,평균,/상대표준 편차,,최소,범위)

* 단계 매크로 편집

* 비동기식 매크로 정렬

* 자동 프로젝트 또는 매크로 실행을 예약하는 작업 서버

7, 컨트롤 스테이션: 컴퓨터

권장 구성:

컴퓨터: 노트북 또는 데스크탑 (옵션) 에는 소프트웨어의 호환성을 설치하고 확인해야 합니다.

CPU Pentium Core 2, 메모리 2GB

하드 드라이브 > 160GB 7.200, DVD - CD-DVDRW-CDRW

모니터 LCD 17"또는 19"TFT

Windows XP 운영 체제

네트워크, 그래픽, USB 커넥터...

키보드, 마우스

프린터: 컬러 HP Deskjet 프린터 또는 동급 제품

8. 크기:

크기(Dimension): P55 x L75 x H65cm

무게(Weight): 약 80kg

9. 전원:

110/220V +/- 10%、단상(single phase), 50/60Hz

16 A, < 1.0 KVA