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하북 마이크로컴퓨터 제어 전액 서보 * 재료 시험기 【 * 재료 시험기 】

협상 가능업데이트05/01
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

WAW-H 시리즈 마이크로컴퓨터 제어 전액 서보 * 재료 시험기 $r$n 용도: 금속, 비금속 및 부재에 대해 스트레칭, 압축, 구부러짐, 절단, 박리, 찢기, 저주 순환 등 시험을 진행할 수 있으며, 4기둥 구조, 비례 서보 밸브 그룹을 사용하여 자동 로드 제어를 진행할 수 있으며, 제어 정밀도가 높고 안정성이 좋은 등의 특징을 가지고 있다.$r$n$r$n$r$n$r$n$r$n$r$n$r$n$r$n$r$r$n$r$n$r$n$r$n$r$n$r$n$r$n 허베이 마이크로컴퓨터 제어 전액 서보 * 재료 시험기 【* 재료 시험기】

제품 정보

WAW-H는시리즈 마이크로컴퓨터 제어 전액 서보 * 재료 시험기

용도: 금속, 비금속 및 부재에 대해 신축, 압축, 구부러짐, 절단, 박리, 찢기, 저주순환 등 시험을 진행할 수 있으며, 사립기둥 구조, 비례 서보 밸브 그룹을 사용하여 자동 로드 제어를 진행할 수 있으며, 제어 정밀도가 높고 안정성이 좋은 등 특징을 가지고 있다.

하북 마이크로컴퓨터 제어 전액 서보 * 재료 시험기 【 * 재료 시험기 】

하북 마이크로컴퓨터 제어 전액 서보 * 재료 시험기 【 * 재료 시험기 】

주요 기술 사양:

모델 규격

600H

1000H

WAW-2000H

zui 큰 시험력(KN)

600

1000

2000

표시 상대 오차zui 큰 허용값

±1%

±1%

±1%

zui 큰 스트레칭 공간(mm)

650

700

900

zui 대압축 공간(mm)

600

630

750

작은 원 샘플 클립 지름(mm)

Φ13~Φ26

Φ14~Φ32

Φ20~Φ40

큰 원형 샘플 클립 지름(mm)

Φ26~Φ40

Φ32~Φ45

Φ40~Φ70

플랫 샘플 클립 두께(mm)

0-15

0-40

0-50

굽은 지점 zui 큰 간격(mm)

360

360

600

시료 지름 잘라내기(mm)

Φ10(특별 주문)

Φ10(특별 주문)

Φ10(특별 주문)

양쪽 기둥 간격(mm)

560

600

700

총 전력(kW)

2.1

2.1

4

WAW-H는시리즈 마이크로컴퓨터 제어 전액 서보 * 재료 시험기

용도: 금속, 비금속 및 부재에 대해 신축, 압축, 구부러짐, 절단, 박리, 찢기, 저주순환 등 시험을 진행할 수 있으며, 사립기둥 구조, 비례 서보 밸브 그룹을 사용하여 자동 로드 제어를 진행할 수 있으며, 제어 정밀도가 높고 안정성이 좋은 등 특징을 가지고 있다.

주요 기술 사양:

모델 규격

600H

1000H

WAW-2000H

zui 큰 시험력(KN)

600

1000

2000

표시 상대 오차zui 큰 허용값

±1%

±1%

±1%

zui 큰 스트레칭 공간(mm)

650

700

900

zui 대압축 공간(mm)

600

630

750

작은 원 샘플 클립 지름(mm)

Φ13~Φ26

Φ14~Φ32

Φ20~Φ40

큰 원형 샘플 클립 지름(mm)

Φ26~Φ40

Φ32~Φ45

Φ40~Φ70

플랫 샘플 클립 두께(mm)

0-15

0-40

0-50

굽은 지점 zui 큰 간격(mm)

360

360

600

시료 지름 잘라내기(mm)

Φ10(특별 주문)

Φ10(특별 주문)

Φ10(특별 주문)

양쪽 기둥 간격(mm)

560

600

700

총 전력(kW)

2.1

2.1

4