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Shenzhen Taiqin Technology Co., Ltd
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Shenzhen Taiqin Technology Co., Ltd

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    fanhh@sztaiqin.com

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    13823754565

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    심수시 룡화신구 동환일로 신중태과학기술공업원 1동 8012

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차분 프로브

협상 가능업데이트01/22
모델
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생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

차분 프로브는 두 프로브를 하나의 프로브로 합성하는 것과 유사하며, 더 이상 단일 유원 프로브처럼 땅을 참고하지 않으며, 그것은 두 시험점 사이의 전압차를 측정하는 것이다.Dxx05-A 13-25GHz는 고성능, 큰 동적 범위 및 오프셋 범위, 낮은 노이즈를 갖춘 고대역폭 테스트 프로브입니다.

제품 정보

차분 프로브

유원차분 프로브두 개의 프로브를 하나의 프로브로 합성하는 것과 유사하며, 더 이상 단일 소스 프로브처럼 땅을 참고하지 않는다.차분 프로브두 시험점 사이의 전압차를 측정하다.Dxx05-A 13-25GHz차분 프로브고성능, 큰 동적 범위 및 오프셋 범위, 낮은 노이즈를 갖춘 고대역폭 테스트 프로브입니다.

제품 사양

모델

대역폭

입력 동적 전압

공통 모드 전압

편향 전압

감쇠

DC 임피던스

오실로스코프 인터페이스 방식

피측물을 연결하는 방법

WL-2.92MM 케이스

플로링크

-D2505는

25GHz의

2.0Vpk-pk

±4V

±2.5V

4.5x

1 kΩ 차이

공통 모드 100kΩ

용접식, 포인트 테스트 옵션

- D2005

20GHz의

2.0Vpk-pk

±4V

±2.5V

4.5x

1 kΩ 차이

공통 모드 100kΩ

용접식, 포인트 테스트 옵션

WL-PLINK-A-CASE는

플로링크

-D1605는

16GHz의

2.0Vpk-pk

±4V

±2.5V

3.5x

1 kΩ 차이

공통 모드 100kΩ

용접식, 포인트 테스트 옵션

-D1305는

13GHz의

2.0Vpk-pk

±4V

±2.5V

3.5x

1 kΩ 차이

공통 모드 100kΩ

용접식, 포인트 테스트 옵션

WL-PLINK 케이스

플로링크

-D1330은

13GHz의

3.5Vpk-pk

±5V

±4V

3.75x

차분 200kΩ

공통 모드 50kΩ

용접식, 포인트 테스트 옵션

- D1030

10GHz의

3.5Vpk-pk

±5V

±4V

3.75x

차분 200kΩ

공통 모드 50kΩ

용접식, 포인트 테스트 옵션

-D830은

8GHz의

3.5Vpk-pk

±5V

±4V

3.75x

차분 200kΩ

공통 모드 50kΩ

용접식, 포인트 테스트 옵션

- D600A-AT

7.5GHz의

±2.4V

±2.4V

0

2.5x

4 kΩ

조절 가능한 간격, 점 테스트

- D500PT

5GHz의

±2.4V

±2.4V

0

2.5x

4 kΩ

조절 가능한 간격, 점 테스트

- D610-PT

6GHz의

±1.25V

±4V

±3V

1.5x

100 kΩ

조절 가능한 간격, 점 테스트

-D620-PT는

6GHz의

±2.5V

±4V

±3V

2.5x

100 kΩ

조절 가능한 간격, 점 테스트

-D610은

6GHz의

±1.25V

±4V

±3V

1.5x

100 kΩ

용접식, 잭식 등

-D620은

6GHz의

±2.5V

±4V

±3V

2.5x

100 kΩ

용접식, 잭식 등

WL-Pbus 케이스

ProBus는

-D300A-AT는

3GHz의

±2.4V

±2.4V

0

2.5x

4kΩ

조절 가능한 간격, 점 테스트

- D410-PT

4GHz의

±1.25V

±4V

±3V

1.5x

100kΩ

조절 가능한 간격, 점 테스트

-D420-PT는

4GHz의

±2.5V

±4V

±3V

2.5x

100kΩ

조절 가능한 간격, 점 테스트

-D410은

4GHz의

±1.25V

±4V

±3V

1.5x

100kΩ

용접식, 잭식 등

-D420은

4GHz의

±2.5V

±4V

±3V

2.5x

100kΩ

용접식, 잭식 등

ZD1500

1.5GHz의

±8 V

±10V

±18 V

120 kΩ

잭식

즈다 1000

1 GHz의

±8 V

±10V

±18 V

120 kΩ

잭식

Zd500

500MHz의

±8 V

±10V

±18 V

120 kΩ

잭식

AP033는

500MHz의

±40 V

±42 V

±40 V

1M

잭식

제품 특성

· 13GHz, 16GHz, 25GHz 대역폭 옵션

· 프로브와 오실로스코프 조합의 대역폭 등급

· 프로브 및 오실로스코프 성능 자동 최적화

· 2.0Vpk-pk 동적 범위

· ±2.5V 오프셋 범위

· 프로브 시스템(-PS 모델)은 완전한 기능을 제공합니다.

· 고급 휴대용 소프트백

· 대체 저항이 있는 긴 용접 프런트엔드

· 탄화점 측정 프런트엔드 최적화 신호 무결성 및 로드

· 슈퍼 프로브 임피던스 소화 부하 효과

· 14nV/Hz까지 낮은 프로브 노이즈

WaveLink의고대역폭(13-25) GHz의차분 프로브

힘과의 Dxx05-A 13-25 GHz차분 프로브큰 동적 범위와 오프셋 범위, 낮은 소음을 가진 고성능 고대역폭 테스트 프로브입니다.

전체 탐지 시스템

차등 증폭기, 용접 프런트엔드 (X2), 포인트 테스트 프런트엔드, 케이블, 일치하는 연결 부분, 브래킷 및 기타 액세서리를 포함한 높은 가격대의 종합 탐지 키트, 프로브와 액세서리는 휴대용 패키지에 포장되어 있어 필요한 대역폭을 쉽게 선택할 수 있습니다.

높은 동적 범위 및 오프셋 범위

상상을 초월하는 2.0Vpk-pk의 높은 동적 범위와 최대 25GHz의 대역폭, 그리고 큰 편향 능력.

고급 휴대용 소프트백

프로브 시스템의 모든 부분을 편리하게 포장할 수 있는 고급 휴대용 소프트백.

고성능 용접 프런트엔드

대체 가능한 저항이 있는 긴 용접 프런트엔드, 외부 저항단은 프런트엔드 임피던스와 테스트 포인트의 임피던스를 매우 가깝게 만듭니다.

회로 부하를 소형화하다.

탄화점 측정 프런트엔드 신호 무결성

탄화광섬유저항을 사용하는 점측전단은 시험점에 리상적인 분포식저항을 제공하는데 이 설계는 력과 *의 설계로서 개선된 신호완전성을 제공해주었다.

슈퍼 프로브 임피던스

다른 고대역폭 프로브에 비해 회로 및 신호 부하가 50% 감소하여 테스트에 미치는 영향을 크게 줄일 수 있습니다.