옥스포드 Oxford CMI760 PCB 면 구리/구멍 구리 두께 측정기

옥스포드 Oxford CMI760 PCB 구멍 구리 & 면 구리 두께 측정기

옥스포드 Oxford CMI760 선로 판공 구리 & 면동 두께 측정기 CMI700

CMI 700은 인쇄회로기판 업계의 구리 두께 측정 및 품질 관리 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다.

CMI 760은 표면 구리와 천공 내의 구리 두께를 측정하는 데 사용할 수 있습니다.이 확장성이 뛰어난 데스크탑 두께 측정기 시스템은 표면 구리와 천공 내 구리의 두께를 정확하고 정확하게 측정하기 위해 미세 저항과 전기 와류 두 가지 방법을 사용할 수 있습니다.CMI 700 데스크탑 측정 시스템은 매우 높은 다기능성과 확장성을 가지고 있으며, 다양한 프로브의 호환성을 통해 표면 구리, 천공 내 구리 및 마이크로 구멍 내 구리의 두께를 측정하고 구멍 내 구리의 품질 테스트를 포함한 다양한 응용 수요를 만족시킬 수 있다.

또한 CMI 760은 데이터 정리 분석을 테스트하는 *의 통계 기능을 제공합니다.

CMI 700 구성은 다음과 같습니다.

CMI 700 호스트 및 인증서

SRP-4 프로브

SRP-4 프로브 대체용 프로브 모듈(1개)

NIST 인증 검증용 표준 슬라이스 및 인증서

옵션 액세서리:

ETP 프로브 TRP 프로브 SRG 소프트웨어

SRP-4면 구리 프로브 테스트 기술 매개변수:

구리 두께 측정 범위:

화학동: 10μin–500μin(0.25μm–12.7μm)

구리 도금: 0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)

선형 구리 테스트 가능한 선가중치 범위: 8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

정확도: ±1%(±0.1μm) 표준 슬라이스 참조

정확도: 화학 구리: 표준 차이 0.2%;구리 도금: 표준 차이 0.5%

해상도: 0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1μm≥10μm, 0.01μm <10μm, 0.001μm <1μm

ETP 구멍 구리 프로브 테스트 기술 매개변수:

테스트 가능한 zui 구멍 지름: 35 mils(899 μm)

측정 두께 범위: 0.08–4.0 mils(1–102μm)

전기 와류 원리: ASTM-E376-96 표준에 관한 규정 준수

정확도: ±0.01mil(0.25μm) < 1mil(25μm)

정확도: 1.2 mil(30 μm)에서 1.0%(실험실 경우)

해상도: 0.01 mil(0.1 μm)

6비트 LCD 디스플레이

측정 단위um-mils 옵션

통계 평균, 표준 편차, zui 큰 값 max, zui 작은 값 min

인터페이스 232 직렬, 인쇄 병렬 포트

전원 공급 장치 AC220

기기 크기 290x270x140mm

계기 중량 2.79kg