코디 KD-50L 바구니식 냉열 충격 시험함 (2상자식)

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시스템 구성 개요

이 시리즈 프로그램의 두 상자식 고저온 냉열 충격 시험함은 주로 * 온도 또는 극저온에 대한 재료의 저항력을 테스트하는 데 사용되며, 이러한 상황은 불연속적으로 고온 또는 저온에 있는 상황과 유사하며, 냉열 충격 시험은 각종 물품이 짧은 시간 내에 테스트를 완료할 수 있도록 한다.열진앙에서 발생하는 변화나 물리적상해는 열팽창과 랭축의 변화 또는 기타 물리적값의 변화로 인해 초래된것으로서 PID 시스템을 채용해야만 각종 제품이 *의 신뢰를 얻을수 있다.열진동의 효과에는 완제품의 갈라짐이나 파층 및 변위 등으로 인한 전기화학적 변화가 포함되며, PID 시스템의 전체 비트는 자동으로 제어되어 쉽게 조작할 수 있습니다.

냉열충격시험기는 금속, 플라스틱, 고무, 전자 등 재료업종*의 시험설비로서 재료구조나 복합재료를 시험하는데 사용되며 순간적으로 *온 및 극저온의 련속적인 환경에서 참을수 있는 정도를 거쳐 짧은 시간내에 시료가 열팽창과 랭축으로 인한 화학변화나 물리적상해를 검사할수 있다.2상식과 3상식으로 나뉘는데 차이점은 시험방식과 내부구조가 다르다는 점이다. 제품은 GB/T2423.1-2008 시험A, GB/T2423.2-2008 시험B, GB-T10592-2008, GJB150.3-198, GJB360A-96 방법 107 온도충격시험의 요구에 부합된다.

만족스러운 시험 방법: GJB150.5-86 온도 충격 시험, MIL, IEC, JIS 규범에 부합.

냉열 충격시험박스 용도:

고저온 냉열 충격 시험상자는 전자전기 소자, 자동화 부품, 통신 소자, 자동차 부품, 금속, 화학 재료, 플라스틱 등 업종, 국방 공업, 우주 비행, 병공업, BGA, PCB 스패너, 전자 칩 IC, 반도체 도자기 및 고분자 재료의 물리적 가축 변화에 널리 사용되며, 그 재료의 고, 저온에 대한 반복적인 저항력 및 제품의 열팽창 냉축에서 산출된 화학 변화 또는 물리적 상해, 전자 칩 IC, 반도체 도자기 및 고분자 및 고분자 및 고분자 및 고분자 및 고분자 재료의 기계 제품의 정밀 제품 품질에 근거하여 그 제품의 품질을 확인할 수 있다.

3부:냉열 충격시험상자 기준 충족:

1. GB-2423.1-89(IEC68-2-1) 시험 A: 저온 시험 방법.

2. GB-2423.2-89(IEC68-2-2) 시험 B: 고온 시험 방법.

3. GJB360.8-87(MIL-STD-202F) 고온 수명 시험.

4. GBJ150.3(MIL-STD-810D) 고온 시험 방법.

5.GJB150.4(MIL-STD-810D) 저온 시험 방법.

6. 국군표 GJB150.3-86;

7.국군표 GJB150.4-86;

8. 국군표 GJB150.5-86;

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